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SQM-160 薄膜沉积监控器

SQM-160 薄膜沉积监控器

SQM-160 薄膜沉积监控器

SQM-160 使用成熟的 INFICON 石英晶体传感器技术在薄膜沉积过程中测量速率和厚度。两个传感器输入为标准输入,另外四个传感器输入为可选输入。两个记录器输出提供模拟速度和厚度信号。

传感器输入可分配给不同的材料,在大型系统中平均分配以实现精确的沉积控制,或者配置为双传感器。速率采样模式可在高速率过程中屏蔽传感器,从而延长传感器的使用寿命。速率显示为 0.1Å/s 或 0.01Å/s,用户可自行选择。此外,还可以选择频率或质量显示。凭借四个继电器输入,SQM-160 可控制来源或传感器屏蔽、信号时间和厚度设定点以及信号晶体失效。数字输入允许外部信号启动/停止和归零读数。

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SQM-160 薄膜沉积监控器

SQM-160 使用成熟的 INFICON 石英晶体传感器技术在薄膜沉积过程中测量速率和厚度。两个传感器输入为标准输入,另外四个传感器输入为可选输入。两个记录器输出提供模拟速度和厚度信号。

传感器输入可分配给不同的材料,在大型系统中平均分配以实现精确的沉积控制,或者配置为双传感器。速率采样模式可在高速率过程中屏蔽传感器,从而延长传感器的使用寿命。速率显示为 0.1Å/s 或 0.01Å/s,用户可自行选择。此外,还可以选择频率或质量显示。凭借四个继电器输入,SQM-160 可控制来源或传感器屏蔽、信号时间和厚度设定点以及信号晶体失效。数字输入允许外部信号启动/停止和归零读数。

功能

  • 两个标准测量通道,另外四个可选
  • 模拟输出便于记录速率/厚度
  • 高分辨率选项: 每秒 10 个读数时 0.03 赫兹
  • RS-232 标准接口,可选择连接 USB 或以

零件号


规格

类型 SQM-160 Standard Resolution SQM-160 High Resolution
QCM 传感器输入 Standard: 2; optional: 4 Standard: 2; optional: 4
测量频率范围 Adjustable:
1.0 MHz minimum
6.5 MHz maximum
Adjustable:
1.0 MHz minimum
6.5 MHz maximum
频率分辨率 (1) ± 0.30 Hz ± 0.03 Hz
厚度和速率分辨率/测量 (2) ± 0.37 Å ± 0.037 Å
测量周期 0.10 to 2.0 s (adjustable) 0.10 to 2.0 s (adjustable)
测量过滤器 1 to 20 readings 1 to 20 readings
存储薄膜 99 99
模拟输出 Two 0 to 5 VDC, rate & thickness Two 0 to 5 VDC, rate & thickness
数字输入/输出 Two inputs, four relay outputs Two inputs, four relay outputs
通信接口

Standard: RS-232;

Optional: USB or Ethernet

Standard: RS-232;

Optional: USB or Ethernet

功率 100-120/200-240 VAC, 50/60 Hz, 20 W 100-120/200-240 VAC, 50/60 Hz, 20 W
CE 合规性

Class 1 equipment,

73/72/EEC LVD, 89/336/EEC ECD

Class 1 equipment,

73/72/EEC LVD, 89/336/EEC ECD

壳体/安装

1/2-rack cabinet, 3-1/2" high,

89 x 213 x 197mm (3-1/2" x 8-1/2" x 7-3/4")

1/2-rack cabinet, 3-1/2" high,

89 x 213 x 197mm (3-1/2" x 8-1/2" x 7-3/4")

重量 2.7 Kg (6 lbs) 2.7 Kg (6 lbs)
Windows 软件(集成)

Provides remote setup and operation,

datalogging functions - see sample

screenshot at right.

Provides remote setup and operation,

datalogging functions - see sample

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(1) 0.10 秒测量间隔的分辨率
(2) 工具/密度 = 100/1,基础频率= 6 赫兹,0.10 秒测量间隔
 

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