深圳市万德泉科技有限公司

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LCM025电容薄膜真空计

LINXON真空计，RGA气体分析仪，检漏仪

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<section style="-webkit-tap-highlight-color: transparent;margin: 0px 0px 8px;padding: 0px;outline: 0px;max-width: 100%;color: rgba(0, 0, 0, 0.9);font-family: 'PingFang SC', system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'Hiragino Sans GB', 'Microsoft YaHei UI', 'Microsoft YaHei', Arial, sans-serif;font-size: 17px;letter-spacing: 0.544px;text-align: justify;text-wrap: wrap;background-color: rgb(255, 255, 255);box-sizing: border-box !important;overflow-wrap: break-word !important">LCM025 电容式薄膜真空计系列是高精度温度补偿压力计，专为在恶劣的制造环境中实现稳定的性能而设计。</section><section style="-webkit-tap-highlight-color: transparent;margin: 0px 0px 8px;padding: 0px;outline: 0px;max-width: 100%;color: rgba(0, 0, 0, 0.9);font-family: 'PingFang SC', system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'Hiragino Sans GB', 'Microsoft YaHei UI', 'Microsoft YaHei', Arial, sans-serif;font-size: 17px;letter-spacing: 0.544px;text-align: justify;text-wrap: wrap;background-color: rgb(255, 255, 255);box-sizing: border-box !important;overflow-wrap: break-word !important">先进的数字电子元件提高了真空计的性能，并具有操作简便的特点，例如一键归零功能。耐腐蚀的超纯陶瓷传感器具有出色的零点稳定性，使用寿命长达数百万次压力循环，包括大气冲击。独特的传感器屏蔽可防止真空计受到过程污染。</section><p style="-webkit-tap-highlight-color: transparent;margin-bottom: 16px;outline: 0px;max-width: 100%;clear: both;min-height: 1em;color: rgba(0, 0, 0, 0.9);font-family: 'PingFang SC', system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'Hiragino Sans GB', 'Microsoft YaHei UI', 'Microsoft YaHei', Arial, sans-serif;font-size: 17px;letter-spacing: 0.544px;text-align: justify;text-wrap: wrap;background-color: rgb(255, 255, 255);box-sizing: border-box !important;overflow-wrap: break-word !important">坚固的机械设计和数字电子元件提高了电磁兼容性、长期稳定性和温度补偿。
LSP500皮拉尼真空计（P/N：L21-000

LINXON真空计，RGA气体分析仪，检漏仪

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<p style="color: rgb(51, 51, 51); font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, "Segoe UI", Roboto, Oxygen-Sans, Ubuntu, Cantarell, "Helvetica Neue", Helvetica, Arial, sans-serif; font-size: 14px; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"><span style="color: rgb(51, 51, 51); font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, "Segoe UI", Roboto, Oxygen-Sans, Ubuntu, Cantarell, "Helvetica Neue", Helvetica, Arial, sans-serif; font-size: 14px; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);">皮拉尼真空计 LSP500 是 LINXON 品牌下最新的真空计产品。LSP500 基于热传导（热损失）这一经过验证的物理原理工作，这也是几十年来广泛使用的真空测量原理。 LINXON LSP500 非常适合所有需要在 5 × 10-4 至 1000 毫巴范围内进行可靠测量的真空应用。 LSP500 凭借精心设计的传感器技术、不锈钢法兰、可靠的电子单元以及引人注目的紧凑型铝制外壳，其适用于众多真空应用。如果在长时间工作后需要更换传感器单元，该传感器单元可以在现场轻松更换。这突显了新款 LSP500 的用户友好性和成本效益。
SQC-310 薄膜沉积控制器

薄膜沉积控制仪

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高精度连续镀膜控制或共镀膜控制 凭借先进的技术、完善的显示和实惠的价格，INFICON SQC-310 系列提供同类膜厚控制仪无法企及的优势。可以选择适合您应用的理想型号：连续镀膜 (SQC-310) 或共镀膜 (SQC-310C)。
XTC/3薄膜沉积控制器

薄膜沉积控制仪

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技术先进，经济实惠，可对单层或多层薄膜进行速率控制 立即了解用于单层和多层过程的薄膜沉积控制器的详细信息。XTC/3 带有专利 ModeLock，提供跳模预防功能，确保获得始终如一的质量。使用 XTC/3 薄膜沉积控制器，您可以高度精确地控制沉积速率和厚度，获得几乎适用于所有层的容量，而且控制器安装简便，具有极高可靠性，可确保高生产力。 INFICON 是薄膜沉积控制领域的全球领导者，现在提供的这款仪器具有极低的拥有成本，可为客户带来空前的价值。 无论您需要的是生产、研发还是开发方面的控制，您都将发现 INFICON XTC/3 能够完美满足您的需求。 全球 INFICON 支持 无论您身在何处，都可获得快速回复、贴心服务以及最长运行时间。INFICON 是唯一一家在全球设有本地服务与技术支持中心的薄膜沉积控制器制造商，其办事处遍布全球。
IC6 薄膜沉积控制器

薄膜沉积控制仪

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不变的是卓越的表现 功能丰富的 IC6 提供提供最佳测量精度 IC6 薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多独特的功能，可帮助您实现沉积过程的最大价值。IC6 使用我们的 ModeLock 频率测量系统，提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量，速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行业中的佼佼者。IC6 具有其他石英晶体控制器无法比拟的性能、品质和功能，赋予您的过程卓越的可重复性。
石英晶振片

晶振片

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<h3 style="FONT-SIZE: 15px">用于真空应用的石英监控器晶体</h3>石英晶体是 QCM 系统中的速率和厚度传感元件。这些晶体用于所有标准 INFICON 监控器或控制器以及 INFICON（或其他制造商的）单、双或多晶体传感器的真空应用。   INFICON 推出各种晶体和包装，可随时为您提供所需的晶体。
前载式单探头

石英晶体探头和馈入件

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INFICON 前装式单晶体传感器拥有经实践检验的可靠性和耐用性，提供超越当前市场上的任何传感器头的最佳热稳定性。前装式设计允许在侧面插入空间不足的应用中轻松插入晶体支架。经机械装配而成，而不是焊接在一起，因此，您能够在现场方便地更换其部件（如有必要）。传感器可单独订购，或以传感器/馈入件组合的形式订购，该组合可焊接在一起，或通过压缩接头装配在一起。
LINXON® LX218氦质谱检漏仪

LINXON真空计，RGA气体分析仪，检漏仪

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<header style="box-sizing: border-box; color: rgb(33, 37, 41); font-family: open_sansregular, verdana, arial, helvetica, sans-serif; white-space: normal; background-color: rgb(255, 255, 255);"><h3 class="" style="box-sizing: border-box; margin-top: 0px; margin-bottom: 0.5rem; font-family: inherit; font-weight: 500; line-height: 1.2; color: inherit; font-size: 1.75rem;">LINXON - 泄漏检测的精髓</h3></header>INFICON集成部件可实现一流的性能，以卓越的速度带来绝对的测量精度。 简易的导览方式以及稳固的结构使得LX218泄漏检测仪成为各行业公司的理想之选。氦气泄漏检测仪的启动时间不到三分钟，泄漏测试和反应速度非常快。LX218的另一项优势在于：凭借真空模式和吸气选项，它非常适合实现高效的泄漏定位和泄漏量测定。由于标准组件和直接分销渠道而具有竞争力的价格即使经过长时间的使用，使用经过验证的真空技术组件（如质谱仪，泵和阀门）也具有最高的可用性和可靠性由于抽速很高，测量时间非常短即使在受氦污染的环境中，也可用智能不锈钢真空系统检测最小的泄漏由高精度INFICON测量技术确保生产或服务应用的最高质量操作和安装简单，无需培训即使在最恶劣的生产环境中也可以使用它，它强健多用
CDG025D电容膜片真空计

高精度真空计

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<h1 style="FONT-SIZE: 21px">SKY® CDG025D 0.1 ... 1000 托 / 毫巴</h1>INFICON SKY CDG025D 电容隔片真空计系列的高精度温度补偿型压力计可以在恶劣的生产加工环境中提供稳定性能。高级数字电子元件用于改进真空计的性能，具有一键调零功能和设定点调整等易于操作的特性。防腐蚀超纯陶瓷传感器提供优异的零点稳定性，预期使用寿命长达数百万次压力循环（包括气压突变）。独特的传感器屏蔽（正在申请专利）用于保护真空计，使其免受加工污染。坚固的机械设计和数字电子元件可以改进电磁兼容性 (EMC)、长期稳定性和温度补偿。 CDG025D 电容隔片真空计为开机后快速稳定以及从大气气压中快速恢复的功能树立了新的标准。
CDG045D 电容式膜片真空计

高精度真空计

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<h1 style="FONT-SIZE: 21px">SKY® CDG045D 0.05 ...1000Torr / mbar</h1>INFICON SKY CDG045D 压力计是实现高精确总压测量与控制的理想之选。CDG045D 真空计温度控制在 45 °C，具有卓越的信号稳定性和可重复性。在 50 mTorr 至 1000 Torr 满刻度范围内均可使用，带有所有常用类型的法兰和现场总线接口，能够提供 0 至 10 V、不受气体类型限制的线性压力信号。INFICON 电容式压力计采用超纯氧化铝陶瓷隔膜，具有防腐蚀性。陶瓷传感器具有信号稳定性更佳、从大气恢复的速度更快、预热时间短和使用寿命长等诸多优势。INFICON CDG 压力传感器品质卓越，极具成本效益，适用于苛刻的真空应用。
MPG400反磁控管皮拉尼真空计

宽量程真空计

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INFICON 倒置磁控管皮拉尼MPG400 和 MPG401型真空计测量，范围范围从 5 x 10-9 毫巴至大气压（3.8 x 10-9 托至大气压）。将多项技术融合到到一个带有对数模拟输出信号的单个紧凑数装置中，极大降低了安装、设置和集成的复杂性。
PEG100潘宁真空计

宽量程真空计

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INFICON 潘宁PEG100型真空计提供可靠的高真空测量。坚固耐用的潘宁冷阴极传感器不会出现灯丝烧毁的现象。由于采用钛阴极板且等离子点火后高电压将会降低，真空计还可在溅射应用环境下运行。现场总线选件，除了对数模拟输出信号外，允许使用 Profibus DP 或 DeviceNet 协议将真空计轻松集成到真空系统中。
PSG5xx皮拉尼标准真空计

宽量程真空计

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INFICON 皮拉尼PSG500、PSG502-S、PSG510-S 和 PSG512-S型标准真空计采用当今市场上最先进的数字皮拉尼技术。不锈钢传感器单元坚固耐用，结构设计紧凑，适用于半导体系统和标准应用，例如前级真空管。
UL1000氦气检漏仪

inficon检漏仪

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<h1 style="font-size: 21.59px;">UL1000 氦气检漏仪 ULTRATEST Technology™</h1>满足苛刻检漏应用的速度性、灵敏性和可靠性 INFICON UL1000 移动式氦气检漏仪设计用于满足最苛刻的工业检漏应用。凭借低维护设计下的快速、精确、可重复的测试结果，测试灵活性以及高灵敏度，UL1000 可应对业内最艰难的检漏作业。UL1000 经优化可在所有应用中提供快速、精确的结果，从大型容器和系统的测漏到最严酷工业环境中的高循环率、反复部件测试 - 1 周 7 天/ 1 天 24 小时。使用额外的 TC1000 测试盒配件，UL1000 氦气检漏仪为密封部件提供简单、快速、精确的测试，如 IC 封装、石英晶体和激光器二极管（根据 MIL-STD 883，方法 1014）。 专用于查找元件和组件中的泄漏点 检漏方法：真空检漏法、喷涂检漏法（和基本的吸枪检漏法）     气体类型：氦气 应用：真空系统（如半导体生产）、元件和部件的泄漏检测
SQM-160 薄膜沉积监控器

薄膜沉积监测仪

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SQM-160 薄膜沉积监控器SQM-160 使用成熟的 INFICON 石英晶体传感器技术在薄膜沉积过程中测量速率和厚度。两个传感器输入为标准输入，另外四个传感器输入为可选输入。两个记录器输出提供模拟速度和厚度信号。 传感器输入可分配给不同的材料，在大型系统中平均分配以实现精确的沉积控制，或者配置为双传感器。速率采样模式可在高速率过程中屏蔽传感器，从而延长传感器的使用寿命。速率显示为 0.1Å/s 或 0.01Å/s，用户可自行选择。此外，还可以选择频率或质量显示。凭借四个继电器输入，SQM-160 可控制来源或传感器屏蔽、信号时间和厚度设定点以及信号晶体失效。数字输入允许外部信号启动/停止和归零读数。
STM-2XM 双通道速率/厚度监测仪

薄膜沉积监测仪

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多个应用的简单操作 STM-2XM 是一款双通道速率/厚度监测仪，它将高精度与灵活编程相结合，易于操作，价格实惠。 STM-2XM 配有五种操作模式，可适应从简单到复杂的各种过程。例如，使用简单模式仅监测单一传感器最简单的过程，或使用合金模式进行共沉积监测。独立模式可将 STM-2XM 用作两个完全独立的监测仪。 两个传感器输入可以使用两个单石英晶体传感器或一个双石英晶体传感器。每秒进行 10 次测量，从而实现每次测量 0.037 Å 的分辨率（密度为 1）。 功能丰富 STM-2XM 有八个可编程的数字输入、八个可编程的数字输出以及四个模拟输出，允许通常保留用于更昂贵仪器的集成水平。 可编程的功能包括闸门延迟、时间/功率监测和速率采样。使用所有这些功能可实现最精确的读数和最长的晶体使用寿命。 通过简单的前面板界面或通过随附的 LabVIEW® 软件，运行并监测 STM-2XM。这一简单的软件功能齐全并且易于使用。 易于使用 STM-2XM 配备了高对比度的 LCD 显示屏和直观的菜单系统。整个菜单内均可找到屏幕提示，用于简单的引导式编程和操作。易于阅读的 LCD 可显示累积的质量或厚度
STM-2 USB 薄膜速率/厚度监测仪

薄膜沉积监测仪

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 尺寸小巧，价格低廉，性能强大 STM-2 将 USB 连接的简单与精密测量引擎的精度相结合，在一个结构紧凑、价格便宜的封装内实现所有功能。 STM-2 小巧、简单，方便安装和操作。 出色的性能 STM-2 是行业内最精确的 USB 供电薄膜监测仪。 每秒进行十次测量， 从而实现每次测量 0.037 Å 的分辨率（密度为 1）。 轻松灵活安装 STM-2 附带了将 QCM 传感器/馈入件连接到 Windows® PC 所需的一切附件。只需将随附的 BNC 电缆从馈入件连接到 STM-2，然后使用标准微型 USB 电缆（随附）将 STM-2 连接到您的 PC 即可。无需外部振荡器或电源。 STM-2 配备内部振荡器，当 STM-2 距离石英晶体在 1 米（40 英寸）以内时，可采用这种简单 并且具有成本效益的安装方式。而在 STM-2 必须远离馈入件的应用中，可采用标准 INFICON 振荡器套件。 STM-2 软件 STM-2 附带了 LabVIEW® 软件，该软件支持简单的运行和数据记录。它还附带了 Windows 软件，用于最多八个 STM-2 的同时运行和数据记录（每个 STM-2 需要一个供电的 USB 端口）。
IQM-233 薄膜沉积控制器 PCI-Expr

薄膜沉积控制仪

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在 PCI EXPRESS 卡上实现低成本镀膜控制 IQM-233 PCI Express 卡可使您的 PC 变成薄膜膜厚控制仪。这种由 INFICON 设计和制造的产品是OEM 系统集成商或要将薄膜膜厚控制仪集成到现有 PC 或 PLC 控制系统的所有厂商的理想选择。安装简便—只需您提供一个未占用的 PCI Express 插槽。IQM-233 可安装到标准或小型 PC 机箱中。 无与伦比的功能 IQM-233 可在每个卡上提供三个 QCM 探头输入和三个源输出。单台 PC 上最多可安装两个 IQM-233 卡（需要可选软件IQS-233 ），其最多可提供六个探头输入和六个源输出。只有 INFICON 才能如此灵活地完全实现集成 PC 控制 QCM 探头。 IQM-233 可与 INFICON 振荡器 IPN 782-900-010 兼容，因此更换 SQM-242 卡不需要安装新振荡器。它还与所有 INFICON 单探头和双探头兼容。 选择最适合您的软件解决方案 IQM-233 随附基本 Windows® 软件，用于通过单 IQM-233 卡设置或控制连续镀膜或共镀膜过程。通过可选 IQS-233 共镀膜 Windows® 软件可进行更加复杂的工艺设置，包括多层共镀膜、图型以及PLC与继电器的集成/输入功能。IQS-233 软件最多允许使用两个 IQM-233 卡。 作为希望编写自有软件的客户的备选方案，IQM-233 所包含的 LabVIEW ™ 样板程序可提供基本功能和编程技术的演示。
Cygnus 2 薄膜沉积控制器

薄膜沉积控制仪

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 为 OLED 应用提供最佳测量精度 Cygnus 2 薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多独特的功能，可帮助您实现 OLED 过程的最大价值。Cygnus 2 使用我们 ModeLock 频率测量系统，提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量，速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行业中的佼佼者。Cygnus 2 具有其他石英晶体控制器无法比拟的性能、品质和功能，赋予您的过程卓越的可重复性。
Guardian EIES 控制器

薄膜沉积控制仪

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 可同时沉积至多八种材料 CIGS 薄膜的理想之选 Guardian 可将沉积速度控制在 0.1 到 10,000 Å/s 范围内。它可以操作一个或两个传感器，最多 8 个光输入，并控制最多 8 个沉积源，因此能够同时沉积最多 8 种材料。 INFICON Guardian 是光伏模块、有机发光二极管、光伏、超导薄膜以及分子束外延制造等应用的理想之选。 Guardian Codeposition 系统基于电子碰撞发射光谱 (EIES)。通过运用 EIES，要沉积的材料在热离子发射体的作用下生热，从而产生光子。    产生的光通过滤光器，到达光电倍增管 (PMT)检测仪，光电倍增管检测仪可以测量通过的波长的发射强度。  然后 INFICON Guardian 控制器产生  信号来控制该材料源。配备了合适滤光器的其它检测仪可用于多种材料。   一套完整的 Guardian 系统至少包括一个传感器、一个 PMT 检测仪、一个滤光器、一个 Guardian 控制器单元以及一台安装了 Guardian 软件的电脑（由用户提供）。    EIES 通常用于控制多种材料的沉积，因此，大多数 EIES 系统还包括其他传感器、检测器、光学器件（例如分裂器）以及 QCM，QCM 用于校准或控制某些材料的沉积速率。    如需关于典型系统的更多信息，请参阅下面的 Downloads（下载）选项卡中的《Guardian 配置指南》。 要配置 Guardian 共沉积系统，需要考虑以下几点 沉积材料的初级和二级发射波长为多少？ 如果不同材料的峰值过于  相近，您可能需要监控二级发射波长，  二级波长的信号强度较弱。 在沉积过程中，真空室中存在哪些本底气体？  这些本底气体的发射波长  是多少？ 如果本底气体的发射干扰了沉积材料，则建议使用气体补偿传感器。 对于特定发射光谱的原子种类，  EIES 是最为有效的。分子种类产生的发射光谱不稳定或者  过宽，无法准确测量。不建议将  EIES 用于有机材料。各个具体应用的  最佳 EIES 系统配置由以上因素及其他因素确定。

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